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x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優勢
點擊次數:197 發布時間:2021-08-24
  x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且的更具有現代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。
 
  工作原理:
  x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
 
  x熒光鍍層測厚儀可應用于:
  合金分析;鍍層厚度分析;電鍍液金屬離子分析;磁性介質和半導體元素分析;土壤污染元素分析;過濾器上的薄膜元素分析;塑料中的有毒元素分析。
 
  使用優勢:
  1、超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面;
  2、易于使用,一鍵操作,即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果;
  3、有助于識別鍍層成分的創新型功能;
  4、機身結構小巧結實,外形十分漂亮,適合放置于陳列展室;
  5、按下按鈕的數秒之內,即可得到有關樣件鍍層厚度的結果;
  6、使用PC機和軟件,可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書;
  7、用戶通過攝像頭及艙內照明系統,可看到樣件測試位置,提升了用戶測試信心;
  8、有X射線防護鎖,只有在封閉狀態下才發射X射線,安全、可靠的保證客戶使用。
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